题名

以積體電路封裝測試爲例探討X-R管制圖的特性與運用

DOI

10.29999/QM.200501.0017

作者

閻鐵民

关键词
期刊名称

品質月刊

卷期/出版年月

41卷1期（2005 / 01 / 01）

页次

79 - 85

内容语文

繁體中文
主题分类 社會科學 > 管理學
参考文献
  1. Dale H. Besterfield.Quality Control.6E Prentice Hall.
  2. Douglas C. Montgomery.Introduction to Statistical Quality Control.4E John Wiley & Sons, Inc.
  3. Gerald M. Smith.Statistical Process Control and Quality Improvement.4E Prentice Hall.
  4. Stephen B. Vardeman,J. Marcus Jobe.Statistical Quality Assurance Methods for Engineers.John Wiley & Sons, Inc.
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