题名

燒入試驗時間與風險的探討－Duane Model

DOI

10.29999/QM.200602.0009

作者

閻鐵民

关键词
期刊名称

品質月刊

卷期/出版年月

42卷2期（2006 / 02 / 01）

页次

38 - 42

内容语文

繁體中文
主题分类 社會科學 > 管理學
参考文献
  1. (2004).MIL-STD-883F.Test Method Standard Microcircuits.
  2. (2000).Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Electronic Components.JEDEC Solid State Technology Association.
  3. (1981).MIL-HDBK-189.Reliability Growth Management.
  4. (1995).MIL-STD-750D.Test Method Standard Semiconductor Devices.
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