题名 |
標準結合專利技術的趨勢和影響 全球化市場競爭與科技快速發展下,國際標準的新趨勢及新挑戰 |
并列篇名 |
Integrating Patent Technology into Standards-Trend and Impacts |
DOI |
10.29999/QM.200807.0005 |
作者 |
吳秋文(Chue-Wen Wu) |
关键词 | |
期刊名称 |
品質月刊 |
卷期/出版年月 |
44卷7期(2008 / 07 / 01) |
页次 |
35 - 40 |
内容语文 |
繁體中文 |
主题分类 |
社會科學 >
管理學 |
参考文献 |
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