题名

標準結合專利技術的趨勢和影響 全球化市場競爭與科技快速發展下,國際標準的新趨勢及新挑戰

并列篇名

Integrating Patent Technology into Standards-Trend and Impacts

DOI

10.29999/QM.200807.0005

作者

吳秋文(Chue-Wen Wu)

关键词
期刊名称

品質月刊

卷期/出版年月

44卷7期(2008 / 07 / 01)

页次

35 - 40

内容语文

繁體中文

主题分类 社會科學 > 管理學
参考文献
  1. 洪英賢、吳秋文(2007)。經濟部標準檢驗局研究發展專題報告經濟部標準檢驗局研究發展專題報告,未出版
  2. 張平、馬驍(2005)。標準化與智慧財產權戰略。北京:智慧財產權出版社。
  3. 經濟部標準檢驗局(2007)。標準形式與涉及智慧財產權影響評估及研究。經濟部。