题名 |
以化學氣相沉積法合成一維氧化銦鋅奈米線結構及其特性分析 |
并列篇名 |
Synthesis and Characterization of One-Dimensional Indium Zinc Oxide Structure by Chemical Vapor Deposition |
DOI |
10.29548/BGYY.201103.0010 |
作者 |
陳志榮(Chih-Jung Chen) |
关键词 |
化學氣相沉積法 ; 氧化銦鋅 ; 奈米線 ; chemical vapor deposition ; IZO ; nanowires |
期刊名称 |
修平學報 |
卷期/出版年月 |
22期(2011 / 03 / 01) |
页次 |
153 - 162 |
内容语文 |
繁體中文 |
中文摘要 |
本論文主要利用化學氣相沉積法經由氣液固(VLS)機制在低製程溫度下成長一維氧化銦鋅(IZO)奈米線於ITO基板上,並使用掃描電子顯微鏡觀察一維氧化銦鋅奈米線樣本的表面形態、結構、長度、線徑與分佈情形,並利用X光單晶繞射儀鑑定其結構的結晶性,再利用X光能量散譜儀(EDS)做一維氧化銦鋅奈米線的成份分析。本實驗在成長一維氧化銦鋅奈米線的最佳實驗結果(參數為銦(In)顆粒的製程溫度為700℃、鋅(Zn)粉末的製程溫度為550℃、成長壓力為1 Torr、氬氣流量為50 sccm、氧氣流量為10 sccm),由FE-SEM的截面分析發現,本實驗氧化銦鋅奈米線為中空結構,奈米線線徑約為100 nm到150 nm,長約為5 μm,電阻值約20-150 Ω。 |
英文摘要 |
In this study, we report the fabrication of one-dimensional Indium Zinc Oxide (IZO) on an ITO glass substrate by chemical vapor deposition at low temperature via vapor-liquid-solid (VLS) mechanism. The morphologies and structural properties of the IZO nanowire were characterized by field emission scanning electron microscopy (FE-SEM), X-ray diffraction (XRD) and energy dispersive spectrometer (EDS). The IZO nanowires optimal experimental parameters are growth pressure is 1 Torr, argon gas flow of 50 sccm and oxygen flow of 10 sccm. In this condition, the idea temperatures are 700℃ for indium (In) particles and 550℃ for zinc (Zn) particles. The SEM images reveal that IZO nanowires have uniform diameters of approximately 100 nm to 150 nm, and their lengths are up to 5 μm The XRD results demonstrate that the nanowires are crystalline with highly preferential orientation. And our EDS analysis also proves that the composition ratio and this material are IZO nanowires. |
主题分类 |
人文學 >
人文學綜合 基礎與應用科學 > 基礎與應用科學綜合 工程學 > 工程學綜合 工程學 > 機械工程 社會科學 > 社會科學綜合 |
参考文献 |
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