以反射式光電檢測方法量測非線性光學高分子材料之波克效應

Measurements of Pockels Effect of Nonlinear Optical Polymer Materials by Ellipsometric Method

10.6623/chem.2002007

葉世傑(Shi-Jay Yeh)；陳錦地(Chin-Ti Chen)；鄭如忠(Ru-Jong Jeng)；周哲仲(Che-Chung Chou)

非線性光學 ； 波克效應 ； 反射式檢測系統 ； 溶膠-凝膠有機/無機高分子 ； 聚亞醯胺 ； 聚 ； nonlinear optics ； Pockels effect ； electrooptic coefficient ； ellipsometric method ； elecrtric poled polymer ； polyimide ； polyquinoline ； sol gel

化學

60卷1期（2002 / 03 / 01）

63 - 77

繁體中文

本文內容除了簡述非線性光學中的波克效應，主要介紹在檢測波克效應各方法中，簡易且快速的反射式檢測系統(ellipsometric method; simple reflection technique)量測法。本文從原理出發，說明如何量測高分子薄膜的電光係數，也就是r_(33) 值。本文收集整理近年來文獻中利用此一檢測系統量測二次非線性高分子薄膜，例如聚亞醯胺、聚、溶膠-凝膠有機/無機高分子、及其它高分子材料的相關報導，並針對此類經電場極向排列高分子的其他性質如熱穩定性、光損失加以描述比較。

This article decribes the measurement method of Pockel effects on nonlinear optics. The focus is on the electrooptic coefficient, r_(33), estimated by ellipsometric method (simple reflection technique). A survey of r_(33) studies of polymeric materials, such as polyimides, polyquinolines, sol-gel of organic/inorganic polymers, and other polymeric systems, by the techniques is included. A comparison of temporal stability and optical loss of the electric-field poled polymer system is also described.