一個用於變動運算的並行控制設計

10.29428/9789860544169.201801.0191

陳柏憲；周哲民

並行 ； 控制器 ； 變動運算 ； 變動元件 ； parallel ； controller ； variable latency operation ； variable latency unit

NCS 2017 全國計算機會議

2017（2018 / 01 / 01）

1018 - 1023

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現今先進奈米製程中，電路中的每個元件實際執行時間常會受到製程微變異、操作溫度、元件老化和元件設計方式等因素產生改變，導致運算出現變動的情況，變動之運算會導致執行時發生RAW、WAR及WAW等三種資料危障的問題，但傳統固定延遲控制方式無法處理變動運算所產生的資料危障。本論文研發出一個新的用於變動運算的並行控制方法，依據我們提出的三個定理，解決了任意變動所導致的資料危障問題。本控制法能夠克服所有資料危障問題，且提升整體電路之並行運算能力。

In today's advanced nanometer process, the actual execution time of each variable latency unit will be influenced by micro-variation process, operating temperature, unit aging and unit design, resulting operations have some changes. Variable latency operations will lead to three kinds of data hazard, RAW, WAR, and WAW. But traditional control method can not face the hazard that generated by variable latency operations. In this paper, we design a new control method for the variable latency operations. And based on the three theorems proposed, we can solve all data hazard that caused by variable latency operations. Our control method can not only effectively overcome data hazards but also improve the parallel computing ability in multiple units.