a-Si液晶顯示器掃描線驅動陣列佈局與檢測

Layout and Testing of a-Si LCD Scan-Line Driver Array

余志隆(Chih-Lung Yu)；溫武義(Wu-Yih Uen)

窄邊框 ； 掃描線驅動電路 ； 檢測 ； 佈局 ； 欠陷 ； narrow bezel ； gate on array ； array testing ； layout ； defect

先進工程學刊

8卷4期（2013 / 10 / 01）

161 - 164

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a-Si液晶顯示器增加了窄邊框規格，最佳之方法是將掃描線驅動電路於陣列製程中完成。於本論文中我們定義了一種掃描線驅動電路陣列之檢測方法及方式。

In this paper, an a-Si TFT LCD with narrow bezel specification is completed through the gate driver circuitry of the array process to its optimal solution. And the a-Si LCD scan-line driver array layout is presented to define a testing method for the above gate driver array circuit.